表面污染测量仪支架
授权
摘要

本申请提供了一种表面污染测量仪支架,包括壳体,壳体包括底板和侧壁,侧壁从底板的外周向上延伸形成容纳表面污染测量仪的空腔;底板上开设有第一通孔;第一通孔与表面污染测量仪的探测窗相适配;壳体的内部形成有用于容纳灌铅的内腔。本实用新型的表面污染测量仪支架由于使用灌铅的壳体,可以有效地消除待测物体表面待测平面四周区域对检测的影响以及待测物体周围高剂量γ射线对检测的影响,从而减少检测误差,提高表面污染测量仪检测结果的准确度。因此,在测量后,无需对检测结果进行修正,从而提高检测效率。

基本信息
专利标题 :
表面污染测量仪支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921746155.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-17
授权号 :
CN211669373U
授权日 :
2020-10-13
发明人 :
黄英刘宇航徐立鹏杜元媛刘端古川
申请人 :
绵阳市辐射环境监测站
申请人地址 :
四川省绵阳市科创园区玉泉中路10-1号
代理机构 :
北京聿宏知识产权代理有限公司
代理人 :
吴大建
优先权 :
CN201921746155.4
主分类号 :
G01T1/167
IPC分类号 :
G01T1/167  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/167
测量物体放射性含量,例如,污染的测量
法律状态
2020-10-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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