一种45度滤波片偏光测量工具

授权

摘要

一种45度滤波片偏光测量工具，包括：一对臂，一个臂一端与另一个臂一端垂直连接构成臂架；第一孔板和第二孔板，间隔设于一个臂，第一孔板的通孔和第二孔板的通孔位于第一直线，第一直线与该臂的长度方向平行；光源发射器，设于一个臂，光源发射器出光光线与第一直线共线，位于与臂架平行的第一平面；刻度板，设于另一个臂，刻度板的刻度面法向中心线位于第一平面，与第一直线垂直；放置台，用于放置待测物，待测物内具有45度滤波片；当待测物放置于放置台时，45度滤波片中心位于第一直线与刻度面法向中心线相交处。在产品滤波片组装完成后进行反射角度检测，避免不合格的产品流入下一工站造成连带的报废，测量方便快捷，准确判断偏光角度。

基本信息

专利标题：

一种45度滤波片偏光测量工具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920919592.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-19

授权号：

CN209927423U

授权日：

2020-01-10

发明人：

欧鑫黄凯威陈绍强谭军李旭

申请人：

四川九州光电子技术有限公司

申请人地址：

四川省绵阳市科创园区九洲大道259号

代理机构：

成都诚中致达专利代理有限公司

代理人：

曹宇杰

优先权：

CN201920919592.5

主分类号：

G01M11/04

IPC分类号：

G01M11/04