一种偏光轴位测量仪

授权

摘要

本实用新型提供的一种偏光轴位测量仪，包括机架和测量装置，所述测量装置包括检偏件、转动件、夹持组件和两个检测件，所述转动件和夹持组件间隔设置于机架上，所述转动件可转动设置于机架上，所述检偏件设于转动件内，所述检偏件包括基准片和两个偏振片，所述基准片上设有基准线，两个偏振片分别设于基准片的一表面且分别位于基准线的两侧，两个检测件分别依次与两个偏振片相对设置。本实用新型采用两个检测件分别依次检测透过两个偏振片的光线的亮度，排除人工观察带来的误差，提高检测精确度。

基本信息

专利标题：

一种偏光轴位测量仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021270925.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-01

授权号：

CN212300280U

授权日：

2021-01-05

发明人：

郑伟峰蒋淑恋郑鹏邓水发纪金龙康品春阮育娇

申请人：

厦门市计量检定测试院

申请人地址：

福建省厦门市思明区湖滨南路170号四楼

代理机构：

深圳市博锐专利事务所

代理人：

张鹏

优先权：

CN202021270925.5

主分类号：

G01B11/27

IPC分类号：

G01B11/27