光学轴类测量仪的校准装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种光学轴类测量仪的校准装置，包括校准主体以及手柄，校准主体具有相对的第一端面和第二端面，第一端面与第二端面之间设有多个标准圆柱部，多个标准圆柱部的轴径自第一端面向第二端面逐渐增大，校准主体具有中心轴线，标准圆柱部沿着中心轴线旋转对称；手柄的中轴线与校准主体的中心轴线重合，手柄具有相对的第三端面和第四端面，第三端面与第二端面连接。本实用新型的光学轴类测量仪的校准装置通用性强，测量准确度高。
基本信息
专利标题 ：
光学轴类测量仪的校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922213745.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-11
授权号 ：
CN211346688U
授权日 ：
2020-08-25
发明人 ：
黄红平刘娟王云祥
申请人 ：
苏州市计量测试院
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区文曲路69号
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
郝传鑫
优先权 ：
CN201922213745.7
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01B11/08 G01B11/14 G01B11/24 G01B11/27
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-08-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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