颗粒侦测装置
授权
摘要

本实用新型提供一种颗粒侦测装置,包括腔室、侦测单元以及气流产生单元。腔室具有入口、出口以及连接在入口与出口之间的连接通道,其中连接通道具有储存空间。侦测单元设置在连接通道,位于于入口与出口之间,并位于于储存空间的下游。气流产生单元设置在侦测单元的下游。具有不同大小粒径的颗粒自入口进入颗粒侦测装置中,其中当气流产生单元运转,大于特定粒径的第一颗粒沉积在储藏空间中,而小于或等于特定粒径的第二颗粒被气流带动经过侦测单元后自出口排出。

基本信息
专利标题 :
颗粒侦测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920931777.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-20
授权号 :
CN210269528U
授权日 :
2020-04-07
发明人 :
阮柏钧
申请人 :
光宝电子(广州)有限公司;光宝科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省广州市高新技术产业开发区科学城光谱西路25号
代理机构 :
南京经纬专利商标代理有限公司
代理人 :
汪丽红
优先权 :
CN201920931777.8
主分类号 :
G01N15/06
IPC分类号 :
G01N15/06  G01N1/34  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2020-04-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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