测试系统及用于变送器的测试装置
授权
摘要
本公开提供了一种测试系统及用于变送器的测试装置。所述测试系统，包括：测试设备；以及测试夹具，其连接到所述测试设备，其特征在于，验证单元位于所述测试夹具中，使得在所述测试设备与所述测试夹具连接的状态下进行对所述测试设备的验证工作。使用根据本公开的测试系统及用于变送器的测试装置，通过使验证单元从外置式变为内置式，不仅验证了测试设备工作正常与否，还验证了测试设备与测试夹具连接正常与否，从而解决了变送器的高压测试假性不良的问题。
基本信息
专利标题 ：
测试系统及用于变送器的测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920937478.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-20
授权号 ：
CN210401566U
授权日 ：
2020-04-24
发明人 ：
刘芳殷俊张建林胡超
申请人 ：
高准有限公司
申请人地址 ：
美国科罗拉多州
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
唐京桥
优先权 ：
CN201920937478.5
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2020-04-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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