用于洞室顶拱结构面产状的辅助测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于洞室顶拱结构面产状的辅助测量装置，属于工程地质勘测领域，用以解决对于洞室顶拱部位的结构面产状要想测量其走向和倾向数据等相对较为困难，导致测量数据准确性较差的问题。本实用新型包括两块呈平行设置的测量平板，在两块测量平板之间设置有可伸缩的连接杆，连接杆的两端分别与两块测量平板相向的内侧面相连，通过伸缩调节所述连接杆能够调节两块测量平板之间的间距。本实用新型中通过采用辅助测量装置，有效地将待测结构面的位置进行等效转移，从而间接降低测量结构面的操作高度、位置等，实现安全、准确、有效测量结构面产状的目的。
基本信息
专利标题 ：
用于洞室顶拱结构面产状的辅助测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920973785.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-26
授权号 ：
CN209877938U
授权日 ：
2019-12-31
发明人 ：
刘云鹏石定国杨静熙彭仕雄李华
申请人 ：
中国电建集团成都勘测设计研究院有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市青羊区浣花北路1号
代理机构 ：
成都虹桥专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈仁平
优先权 ：
CN201920973785.9
主分类号 ：
G01C1/00
IPC分类号 ：
G01C1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C1/00
测量角度
法律状态
2019-12-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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