一种芯片级的霍尔器件测试分选装置
授权
摘要
本实用新型涉及霍尔器件性能测试设备技术领域，具体涉及一种芯片级的霍尔器件测试分选装置，旨在解决现有技术中霍尔器件的测试分选需要在芯片封装成器件之后完成，存在测试成本大、测试周期长的问题，其技术要点在于包括探针台，用于连接霍尔器件的四个引脚，并对输出不合格的霍尔器件进行标定；电磁铁，设置于所述自动探针台上，用于给所述霍尔器件提供恒定磁场；电流源，与所述霍尔器件的两个引脚连接，作为输入端；万用表，与所述霍尔器件的另外两个引脚连接，作为输出端以测试霍尔电压。本实用新型有效减小了封装成本，缩短了测试周期。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片级的霍尔器件测试分选装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920989131.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-27
授权号 ：
CN210230705U
授权日 ：
2020-04-03
发明人 ：
何渊胡双元
申请人 ：
张家港恩达通讯科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市张家港市凤凰镇凤凰科创园E栋，恩达通讯
代理机构 ：
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 ：
张韬
优先权 ：
CN201920989131.5
主分类号 ：
B07C5/344
IPC分类号 ：
B07C5/344
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
B07C5/34
根据其他特殊性质来分选
B07C5/344
根据电或电磁性质
法律状态
2020-04-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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