高压栅极驱动芯片测试系统

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

摘要

一种高压栅极驱动芯片测试系统，通过加入高压转换模块、测试模块以及上位机，对高压栅极驱动芯片进行高压测试、静态电气参数测试以及动态电气参数测试，从而实现对高压栅极驱动芯片的自动的全面的性能测试，避免了传统中只通过人工连接高压栅极驱动芯片和开关管进行单一的测试而存在的耗费人力、测试项目单一且测试过程繁琐的问题。

基本信息

专利标题：

高压栅极驱动芯片测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921006087.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-28

授权号：

CN210442478U

授权日：

2020-05-01

发明人：

李安平邓瑞祯王健王英广舒雄孔晓琳李建强云星欧纲

申请人：

深圳米飞泰克科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司

代理人：

徐汉华

优先权：

CN201921006087.8

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28