用于失重状态下质量测量仪的测试平台
授权
摘要
本实用新型公开用于失重状态下质量测量仪的测试平台，包括底座安装架、光学平台、气浮平台、承重支架和气浮块，所述底座安装架和所述气浮平台分别固定安装在所述光学平台上表面上，所述气浮块固定安装在所述承重支架底部，所述底座安装架与质量测量仪的一端固定连接，所述承重支架与质量测量仪的另一端固定连接。本实用新型可以在地面上模拟太空失重环境，用于失重状态下质量测量仪应用可靠性和准确性的检验，辅助用于失重状态下质量测量仪的设计制造，从而加快实际应用的研发进度。
基本信息
专利标题 ：
用于失重状态下质量测量仪的测试平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921011165.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-01
授权号 ：
CN209910813U
授权日 ：
2020-01-07
发明人 ：
刘金生林瑞初凌波肖永超陈星祝付帅牛岩陶靖马永洁赵东明汪晓燕肖莉
申请人 ：
中国航天员科研训练中心
申请人地址 ：
北京市海淀区北清路26号
代理机构 ：
北京冠榆知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
朱亚琦
优先权 ：
CN201921011165.3
主分类号 ：
G01G23/01
IPC分类号 ：
G01G23/01 B64G4/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01G
称量
G01G23/01
•称量仪器的检验或校准
法律状态
2020-01-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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