双面缺陷图像采集设备及垂直夹持装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种双面缺陷图像采集设备及垂直夹持装置，包括接收单元、夹持装置以及至少两个面阵相机。接收单元，适于接收电路板的表面图像；夹持装置，适于以使所述电路板处于垂直状态的方式夹持所述电路板；至少两个面阵相机，适于定位到所述电路板的两个相对表面中由所述表面图像所指示的缺陷位置，且拍摄所述缺陷的缺陷图像，所述缺陷图像的质量高于所述表面图像的质量。
基本信息
专利标题 ：
双面缺陷图像采集设备及垂直夹持装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921011178.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-28
授权号 ：
CN211318244U
授权日 ：
2020-08-21
发明人 ：
孙平
申请人 ：
笪萨科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市徐汇区桂平路471号9号楼504室
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
骆希聪
优先权 ：
CN201921011178.0
主分类号 ：
G01N21/956
IPC分类号 ：
G01N21/956 G01N21/13 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/956
检测物品表面上的图案
法律状态
2020-08-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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