相位中心测试系统

授权

摘要

本实用新型涉及一种相位中心测试系统，包括：机架、多探头环形阵列结构、天线测试承载转动装置、相位中心测试治具和驱动结构，多探头环形阵列结构安装于机架上且竖向布置，多探头环形阵列结构的底部设置有缺口，天线测试承载转动装置同样竖向布置，且部分天线测试承载转动装置从缺口中伸入多探头环形阵列结构中，天线测试承载转动装置的顶部用于安装相位中心测试治具，待测试物安装于相位中心测试治具上，相位中心治具被驱动结构所驱动运动，其运动方向为以下方向中的一种或者多种组合：X轴、Y轴、Z轴。本实用新型具有能够高效且精准地调节待测试物的位置、便于验证测量待测试物的相位中心的效果。

基本信息

专利标题：

相位中心测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921031449.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-02

授权号：

CN210427681U

授权日：

2020-04-28

发明人：

陈林斌蒋宇邓东亮刘科宏孙赐恩

申请人：

深圳市新益技术有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙华新区大浪街道和平西路鹏华工业园1号厂房1楼西侧

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201921031449.9

主分类号：

G01R29/10

IPC分类号：

G01R29/10