激光光斑中心定位方法及测试系统
公开
摘要

本发明提出了一种激光光斑中心定位方法及测试系统。方法包括:获取激光光斑图像;对获取的激光光斑图像进行光斑保边界去噪预处理;确定预处理后的激光光斑图像的光斑面积;根据光斑面积计算半径并构造disk掩膜;使用掩膜对激光光斑图像进行遍历和模板匹配,确定激光光斑图像中的光斑最大能量中心点。本发明提出的激光光斑中心定位方法及测试系统,大大节省了光斑质量测试试验成本,有效实现远距离下激光光斑中心实时定位。并且该方法在近场光斑与远场不规则光斑的中心检测均具有优异鲁棒性和准确性,提高了光斑性能检验精度,从而指导该类产品的指标设计,缩短同类产品的研制周期与经费。

基本信息
专利标题 :
激光光斑中心定位方法及测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114299137A
申请号 :
CN202111610932.4
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨德振何佳凯赵鹏飞贾鹏
申请人 :
中国电子科技集团公司第十一研究所
申请人地址 :
北京市朝阳区酒仙桥路4号
代理机构 :
工业和信息化部电子专利中心
代理人 :
张然
优先权 :
CN202111610932.4
主分类号 :
G06T7/66
IPC分类号 :
G06T7/66  G06T7/62  G06T5/00  G06T5/40  G06T7/136  G06V10/74  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割;边缘检测
G06T7/60
图形属性的分析
G06T7/66
力矩中心或重心
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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