一种排线反折对位测试装置
授权
摘要

本实用新型涉及一种排线反折对位测试装置,包括底座和上盖,底座和上盖之间通过插销柱连接,且插销柱的前方左右两侧设有弹簧,所述的底座包括底座固定块、排线长度固定块和排线导向固定块,所述的排线长度限位块通过限位块螺丝孔固定在底座固定块的凹槽位置,所述的排线导向固定块通过导向固定块螺丝孔固定在底座固定块的后部位置;所述的上盖包括盖体、电路板和电路板固定块,所述的盖体的下表面依次设有电路板和电路板固定块,并通过上盖螺丝进行固定。本实用新型结构简单,设计合理,对位精准,可完全解决排线反折后无法使用治具测试的问题及解决客户端上线前对产品品质检验的问题,提高了作业良率。

基本信息
专利标题 :
一种排线反折对位测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921050407.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-08
授权号 :
CN210270028U
授权日 :
2020-04-07
发明人 :
黄克军
申请人 :
江苏久正光电有限公司
申请人地址 :
江苏省镇江市句容市经济开发区华阳北路88号
代理机构 :
江苏圣典律师事务所
代理人 :
邓丽
优先权 :
CN201921050407.X
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-04-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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