一种双基线的能见度探测设备
授权
摘要
本实用新型涉及光学测量技术领域，特别涉及一种双基线的能见度探测设备，包括发射装置和接收装置，发射装置包括光源、第一反射镜、分光镜和第二反射镜，光源发出的光照射到第一反射镜上；第一反射镜反射的光照射到分光镜上；分光镜反射的光照射到第二反射镜上。本实用新型提供的一种双基线的能见度探测设备，通过同一光源发出光束，经过第一反射镜反射到分光镜上，然后通过分光镜折射部分光束到其中一个接收装置中，分光镜反射部分光束到第二反射镜上，然后通过第二反射镜将光束反射到另外一个接收装置中，使两个接收装置接收到的光束为同意光源发出的光束，两个接收装置接收到的光束波长统一，提高能见度探测的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种双基线的能见度探测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921056034.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-08
授权号 ：
CN210269612U
授权日 ：
2020-04-07
发明人 ：
黄兵
申请人 ：
北京风云天地信息科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西三旗昌临801号27号1层122
代理机构 ：
北京金蓄专利代理有限公司
代理人 ：
孙巍
优先权 ：
CN201921056034.7
主分类号 ：
G01N21/59
IPC分类号 ：
G01N21/59 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/59
透射率
法律状态
2020-04-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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