一种LIV特性曲线测试设备
授权
摘要
本实用新型提供了一种LIV特性曲线测试设备，包括显示器、光电转换平台和主设备。本实用新型技术方案积分球用于接收半导体器件的发射光，并将接收到的发射光进行光电转换，以电信号的方式传递至主设备上，主设备处理积分球传递的电信号后，将处理数据最终传递至显示器上，显示器用于显示所述主设备处理后的数据，通过光电转换平台可直接测量半导体器件，减少检测人员的劳动强度，提高检测精准度，使后续主设备处理的数据更加精准，严谨。
基本信息
专利标题 ：
一种LIV特性曲线测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921062758.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-08
授权号 ：
CN210442472U
授权日 ：
2020-05-01
发明人 ：
周稳稳蒋二龙胡海亮欧阳湘东
申请人 ：
莱森光学（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区沙井街道后亭茅洲山工业园工业大厦全至科技创新园科创大厦11层C
代理机构 ：
深圳市港湾知识产权代理有限公司
代理人 ：
微嘉
优先权 ：
CN201921062758.2
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04 G01M11/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-05-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
