一种岩体结构面空间位置测量装置
授权
摘要
本实用新型属于工程地质勘查技术领域，具体涉及一种岩体结构面空间位置测量装置。本实用新型包括：三脚架、精密水平仪、精密指南针、圆盘、精密测距仪；圆盘底面圆心处与三脚架连接；圆盘上表面开有水平仪放置槽和指南针放置槽，精密水平仪和精密指南针分别放置在水平仪放置槽和指南针放置槽内；圆盘圆心O和圆周上两个点N、E标记在其上表面，O、N、E三点位置各固定安装有精密测距仪。本实用新型装置简便、操作简单高效、便于现场测量，具有很好的工程应用意义。
基本信息
专利标题 ：
一种岩体结构面空间位置测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921068559.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-09
授权号 ：
CN210154519U
授权日 ：
2020-03-17
发明人 ：
李冬伟陈亮刘健李炜强王锡勇
申请人 ：
核工业北京地质研究院
申请人地址 ：
北京市朝阳区小关东里十号院
代理机构 ：
核工业专利中心
代理人 ：
闫兆梅
优先权 ：
CN201921068559.2
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-03-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
