高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪
授权
摘要
本专利公开了一种高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪，系统由双狭缝组件、准直自由曲面镜、曲面棱镜、成像自由曲面镜、分谱段折转镜、谱段一探测器和谱段二探测器组成。曲面棱镜在宽谱段内具有高的效率，折射率差色散分光具有高的信号光杂散光比例(信杂比)，利用曲面棱镜加自由曲面镜实现物面处相互分离的双狭缝的分光成像于不同谱段的探测器焦面上。系统成像质量优良、结构简单，可以有效地解决光谱仪不同谱段信杂比和分辨率的矛盾。
基本信息
专利标题 ：
高信杂比宽谱段双狭缝光谱仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921071040.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-10
授权号 ：
CN210268900U
授权日 ：
2020-04-07
发明人 ：
侯佳王跃明何志平舒嵘
申请人 ：
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 ：
上海市虹口区玉田路500号
代理机构 ：
上海沪慧律师事务所
代理人 ：
郭英
优先权 ：
CN201921071040.X
主分类号 ：
G01J3/04
IPC分类号 ：
G01J3/04 G01J3/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/02
零部件
G01J3/04
狭缝装置
法律状态
2020-04-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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