一种激光照射指示器综合性能检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种激光照射指示器综合性能检测设备，包括用于检测激光照射指示器综合性能的检测设备；所述检测设备与外部计算机电连接；所述检测设备由编码激光采集前端、激光测距采集前端和主控单元组成；所述编码激光采集前端其输出端及所述激光测距采集前端其输出端分别与主控单元电连接；所述主控单元通过通讯电缆与外部计算机通讯连接；本实用新型的激光照射指示器综合性能检测设备，能够检测激光照射指示器的重频编码脉冲激光性能和激光测距性能，且检测设备体积较小，便于携带。
基本信息
专利标题 ：
一种激光照射指示器综合性能检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921074316.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-10
授权号 ：
CN210071150U
授权日 ：
2020-02-14
发明人 ：
李刚黄富瑜毛少娟邹昌帆黄欣鑫禹烨王伟奇
申请人 ：
中国人民解放军陆军工程大学
申请人地址 ：
河北省石家庄市和平西路97号
代理机构 ：
北京国坤专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵红霞
优先权 ：
CN201921074316.X
主分类号 ：
G01J11/00
IPC分类号 ：
G01J11/00 G01M11/02 G01C25/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J11/00
测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性
法律状态
2020-02-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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