一种直线电位器测试装置
授权
摘要

本实用新型涉及测试装置技术领域,具体公开了一种直线电位器测试装置,包括测试台、固定件、驱动机构、连接件、限位块以及多个第一接近开关,直线电位器测试装置包括滑动配合的固定端子和活动端子,固定件用于将固定端子固定于测试台,活动端子与固定端子能够沿第一方向滑动,活动端子具有相对固定端子缩回的缩回位置和伸出的伸出位置,驱动机构与固定端子通过连接件连接且驱动活动端子在缩回位置和伸出位置之间移动,多个第一接近开关沿第一方向间隔设置,限位块与连接件固接,当活动端子位于伸出位置时,限位块与多个第一接近开关择一连接,可通过多个第一接近开关匹配多种直线电位器的伸出位置,可提高该直线电位器测试装置的通用性。

基本信息
专利标题 :
一种直线电位器测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921083387.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-11
授权号 :
CN211263637U
授权日 :
2020-08-14
发明人 :
梁中延
申请人 :
中山金飞电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省中山市火炬开发区沿江东一路28号1号楼三楼M区
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
胡彬
优先权 :
CN201921083387.6
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-08-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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