一种电位器寿命测试机
授权
摘要
本实用新型公开了一种电位器寿命测试机，包括工作台、架设于所述工作台下底面的多轴传动机构、设置于所述工作台上表面分别与所述多轴传动机构的多根传动轴对应连接的多个驱动轴、以及设置于多个所述驱动轴的一侧与所述多轴传动机构的主轴相连接的角度识别装置；所述多轴传动机构包括与外部电控装置电连接的伺服电机，以及垂直枢接于所述工作台下底面的多根传动轴，多根所述传动轴通过传动带与所述多轴传动机构的主轴同步转动。以此结构设计，通过伺服电机的精准驱动，驱动多根传动轴随主轴同步转动，继而一次完成多个电位器的寿命测试。
基本信息
专利标题 ：
一种电位器寿命测试机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921090267.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-11
授权号 ：
CN210347830U
授权日 ：
2020-04-17
发明人 ：
梁中延
申请人 ：
中山金飞电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省中山市火炬开发区沿江东一路28号1号楼三楼M区
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
胡彬
优先权 ：
CN201921090267.9
主分类号 ：
G01R31/01
IPC分类号 ：
G01R31/01 G01M13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试，例如在成批生产中的“过端—不过端”测试；当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2020-04-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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