硅片寿命测试系统

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摘要

本实用新型提供了一种硅片寿命测试系统。硅片寿命测试系统包括基座；支架，固定在所述基座上；硅片寿命测试组件，连接在所述支架上，用于测定硅片的寿命；数控组件，与所述硅片寿命测试组件控制连接；还包括硅片承载组件和显示成像组件，所述硅片承载组件连接在所述基座上，用于承载所述硅片，且可带动所述硅片在水平面上沿X轴和/或Y轴方向移动；所述显示成像组件连接在所述支架上，用于对进行硅片寿命测试位置处的硅片位置进行成像显示。本实用新型的硅片寿命测试系统可方便快捷的完成硅片寿命的测试，且测试结果准确。

基本信息

专利标题：

硅片寿命测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021949367.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-08

授权号：

CN212989559U

授权日：

2021-04-16

发明人：

刘娜李景李兵邓伟伟

申请人：

嘉兴阿特斯光伏技术有限公司

申请人地址：

浙江省嘉兴市秀洲区高照街道康和路1288号嘉兴光伏科创园1号楼1505-8室

代理机构：

苏州携智汇佳专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

钱伟

优先权：

CN202021949367.5

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01R1/04 G01N21/95 G01N21/01