一种SPV硅片少子寿命检测系统
授权
摘要
本实用新型涉及硅片检测技术领域，尤其为一种SPV硅片少子寿命检测系统，包括测量模块、信号处理模块、控制模块和基座，所述基座上固定设有承载平台，所述承载平台端面中心处固定设有内嵌有光电传感器，所述光电传感器的上方并且位于承载平台的端面上设有硅片，所述硅片的上方设有红外光源，所述红外光源的安装在固定架上，所述固定架设置在基座的端面上，所述固定架上并且位于红外光源的同侧设有静电耦合传感器，所述基座的端面上并且位于固定架的左上侧固定设有LCD触摸屏安装架，所述LCD触摸屏安装架上安装有LCD触摸屏，本实用新型通过设计检测系统具有无接触、抗干扰能力强、故障率低、操作方便、维护成本低、快速、准确等优点。
基本信息
专利标题 ：
一种SPV硅片少子寿命检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921696129.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-11
授权号 ：
CN211043567U
授权日 ：
2020-07-17
发明人 ：
朱洪伟曹伟兵
申请人 ：
上海柏凌电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区元江路5500号第1幢3870室
代理机构 ：
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 ：
商祥淑
优先权 ：
CN201921696129.5
主分类号 ：
G01R31/265
IPC分类号 ：
G01R31/265 H01L21/66
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/265
••无触点测试
法律状态
2020-07-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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