一种卷绕后芯子耐压测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种卷绕后芯子耐压测试设备,包括检测装置和设置在检测装置上的控制装置,所述检测装置上设置有托板,所述托板的上端面固定设置有下导电板和立板,所述立板的一侧设置有竖直分布的伸缩杆。本实用新型中,检测装置上设有托板和立板,托板上设置有下导电板,立板的一侧设置有伸缩杆,伸缩杆的底部设置有上导电板,下导电板和上导电板上设有同轴心分布的导电柱,伸缩杆动作,上导电板向下导电板靠近,下导电板和上导电板上的导电柱将芯子的上下两端夹持,由此可实现对芯子覆盖式电性接通,通过控制装置对导电柱供电,对芯子进行耐压测试。
基本信息
专利标题 :
一种卷绕后芯子耐压测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921085536.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-12
授权号 :
CN210442465U
授权日 :
2020-05-01
发明人 :
张亮华马银亮张炜鑫
申请人 :
南通海美电子有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市通州区南通高新区希望大道998号
代理机构 :
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨金贤
优先权 :
CN201921085536.2
主分类号 :
G01R31/12
IPC分类号 :
G01R31/12 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2020-05-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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