一种卷绕后芯子容量测试夹具
授权
摘要

本实用新型公开了一种卷绕后芯子容量测试夹具,包括底座,所述底座顶部通过第一支撑台固定安装有第一夹持座,所述第一夹持座顶部固定安装有第一穿刺板,所述底座顶部固定安装有支架,所述支架呈倒L形,所述支架水平端底部固定安装有气缸,所述气缸底部固定安装有拉动杆,所述支架竖直端靠近拉动杆的一侧开设有滑槽,所述滑槽通过滑块滑动连接有固定板,所述固定板远离滑块的一侧固定连接有支撑板。本实用新型中,通过气缸带动支撑板移动,第二夹持座会在第二支撑座的推动下往下移动,第二穿刺板与第一穿刺板相互配合直接插入芯子内部接触金属层,实现绕卷后芯子容量的测量,避免了财产损失。

基本信息
专利标题 :
一种卷绕后芯子容量测试夹具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921085555.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-12
授权号 :
CN210442439U
授权日 :
2020-05-01
发明人 :
宣澄徐晓梅张亮华
申请人 :
南通海美电子有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市通州区南通高新区希望大道998号
代理机构 :
北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨金贤
优先权 :
CN201921085555.5
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  B25B11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2020-05-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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