一种直角平行度平面度测量用基座
授权
摘要
一种直角平行度平面度测量用基座，该基座包括长方体状的高精度磁性底座，高精度磁性底座上安装有便于控制高精度磁性底座进行磁吸定位的磁性开关；在高精度磁性底座的顶部还安装有横向水平设置的测量导轨，测量导轨上滑动安装有便于量表安装的测量滑块。该基座结构简单、实用准确，可与不同量表进行配合，对工件的垂直度、平面度和平行度进行测量。
基本信息
专利标题 ：
一种直角平行度平面度测量用基座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921092170.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-12
授权号 ：
CN210180363U
授权日 ：
2020-03-24
发明人 ：
李治霖
申请人 ：
李治霖
申请人地址 ：
江苏省连云港市海州区振海路59-3号
代理机构 ：
连云港润知专利代理事务所
代理人 ：
刘喜莲
优先权 ：
CN201921092170.1
主分类号 ：
G01B5/24
IPC分类号 ：
G01B5/24 G01B5/245 G01B5/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/24
•用于计量角度或锥度；用于轴线准直检测
法律状态
2020-03-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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