激光测距仪光学结构以及激光测距仪

授权

摘要

本申请涉及激光测距领域，具体而言，涉及一种激光测距仪光学结构以及激光测距仪。一种激光测距仪光学结构，包括：测量组件、指示光组件、第一滤光镜、接收组件。测量组件用于发出测量激光。指示光组件用于发出指示光，指示光为可见光。第一滤光镜设置于测量激光和指示光的出光光路上，用于将测量激光和指示光调整至光路重合。接收组件用于接收经过待测量物体反射的反射光中的测量激光。通过设置指示光组件，能够发出可见光作为指示光，在测量的过程中能够显示目标物体的具体位置，从而使得利用激光测距时能够同时显示物体的具体位置。

基本信息

专利标题：

激光测距仪光学结构以及激光测距仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921097672.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-12

授权号：

CN210514622U

授权日：

2020-05-12

发明人：

赖志林王振兴

申请人：

深圳市度彼电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市光明新区公明办事处田寮社区光明高新园西区七号侨德科技园厂房B栋六楼

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

孙海杰

优先权：

CN201921097672.3

主分类号：

G01S17/08

IPC分类号：

G01S17/08 G01S7/481