一种高精度测量机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种高精度测量机构，包括光栅刻度尺，还包括底板，所述底板的上方活动连接有滑板，所述滑板上固定连接有安装架，所述光栅刻度尺固定连接在安装架上；所述底板上固定连接有用于定位工件的定位块，所述定位块的位置与光栅刻度尺相匹配，本实用新型实现了对工件的限位之后对工件进行测量处理，因此便于工作人员进行操作。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度测量机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921098620.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-15
授权号 ：
CN210400293U
授权日 ：
2020-04-24
发明人 ：
张银保
申请人 ：
深圳威斯特姆智能技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区光明街道同富裕工业区内俊伟兴厂区C栋厂房第四层
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴东勤
优先权 ：
CN201921098620.8
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-04-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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