用于磁瓦检测的照明装置及用于磁瓦检测的检测系统
授权
摘要

本实用新型提供一种用于磁瓦检测的照明装置,包括一半球形的外壳、与外壳底部连接的连接板及电源部,所述电源部用于提供电源,所述外壳底部具有一开口,在所述连接板上开设有小于开口尺寸的第二通孔,所述外壳连接在连接板的一面且开口的中垂线与第二通孔的中垂线重合,在连接板的另一面固定设置有固定部,所述固定部上设置有至少两补光灯,所述电源部与补光灯电性连接,所述补光灯沿第二通孔均匀设置,所述第二通孔的形状为正方形或圆形。本实用新型还提供一种用于磁瓦检测的检测系统,包括上述的用于磁瓦检测的照明装置。本实用新型的用于磁瓦检测的照明装置及用于磁瓦检测的检测系统可对磁瓦进行较好地曝光。

基本信息
专利标题 :
用于磁瓦检测的照明装置及用于磁瓦检测的检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921101076.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-12
授权号 :
CN210322824U
授权日 :
2020-04-14
发明人 :
张发恩郝磊袁智超阎鹤凌
申请人 :
创新奇智(广州)科技有限公司
申请人地址 :
广东省广州市高新技术产业开发区科学城科珠路232号1栋101房
代理机构 :
深圳市智享知识产权代理有限公司
代理人 :
王琴
优先权 :
CN201921101076.8
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-04-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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