一种新型电子技术试验箱
授权
摘要
本实用新型公开了一种新型电子技术试验箱,涉及试验装置技术领域,针对现有的体积庞大的问题,现提出如下方案,其包括试验箱,所述试验箱的上侧固定焊接有功能箱,所述功能箱的上侧通过铰链转动连接有密封门,所述功能箱的底部和试验箱的上侧均设置有连通的连接孔,所述连接孔内滑动套接有密封塞,所述试验箱的内壁固定焊接有分隔板,所述分隔板的上侧设置有夹具,所述夹具的上侧设置有试验箱固定连接的测试头,所述分隔板的下侧通过螺栓固定连接有电源,本实用新型结构简单,使用方便,可以很好的满足不同的测试需要,保证试验的全面性,同时可以方便的进行其他装置的放置和连接,减少试验箱整体的体积,进而方便携带和搬运。
基本信息
专利标题 :
一种新型电子技术试验箱
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921117794.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-17
授权号 :
CN210270033U
授权日 :
2020-04-07
发明人 :
吴琼
申请人 :
西南民族大学
申请人地址 :
四川省成都市武侯区一环路南四段16号
代理机构 :
成都正华专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李林合
优先权 :
CN201921117794.4
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-04-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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