定位治具
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摘要

本实用新型涉及一种定位治具,包括底座及载盘;载盘用于装载产品;底座包括支撑台及光源模组;所述支撑台的中部设有过孔;所述载盘安装于所述支撑台背向所述光源模组的一面上,所述载盘的中部设有容纳孔,所述容纳孔对应所述过孔;所述容纳孔的内周缘轮廓对应所述产品的外周缘轮廓;所述载盘上对应所述容纳孔的内周缘分别凸设有托片,所述产品容纳于所述容纳孔内,且所述产品抵接所述托片;所述容纳孔的孔壁与所述产品的外表面间隔设置。上述定位治具,结构简单,使用方便,将光源模组安装于底座内部,光源模组发出的光线直接照射产品,相机从产品侧观察可得到清洗的产品投影来进行定位,可有效减少反射光,提高定位精确性。

基本信息
专利标题 :
定位治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921118532.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-16
授权号 :
CN210982190U
授权日 :
2020-07-10
发明人 :
但建伟
申请人 :
深圳市卓翼科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区西丽平山民企科技工业园5栋
代理机构 :
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
王锦河
优先权 :
CN201921118532.X
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-07-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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