一种X射线荧光光谱仪的光路启停系统
授权
摘要
本实用新型公开一种X射线荧光光谱仪的光路启停系统，包括有圆盘、滤光条、准直条和摄像头；圆盘、滤光条和准直条自下而上依次连接设置；圆盘下方设有光源，圆盘具有射线孔；滤光条具有若干滤光孔，滤光孔分别装有不同滤光功能的滤光片；准直条具有若干准直孔；滤光条、准直条分别连接有自动驱动装置，相应的自动驱动装置驱动滤光条、准直条以将相应的准直孔、滤光孔与射线孔三者依次正对设置，光源的光线自下而上依次穿过射线孔、滤光孔和准直孔；如此，通过各部件的设计，满足了不同类别样品的检测，结构设计巧妙合理，操作简单，同时，摄像头的集成式设置，使得摄像头拍摄样品照片更清晰，实用性强，可用性佳，适用范围广。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线荧光光谱仪的光路启停系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921121685.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-17
授权号 ：
CN210639109U
授权日 ：
2020-05-29
发明人 ：
甘浩波彭肖
申请人 ：
东莞斯坦德仪器设备有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市东城西路181号金澳大厦B区303A室
代理机构 ：
厦门市新华专利商标代理有限公司
代理人 ：
范小艳
优先权 ：
CN201921121685.X
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-05-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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