一种频率特性分析仪
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摘要

一种频率特性分析仪,包括上位机、信号发射电路、两个相同的信号接收电路、电源、和电气隔离电路,由于电气隔离电路连接在电源与信号发射电路和两个信号接收电路之间,且信号发射电路和两个信号接收电路的参考地互不连接,使得测量通道可以接入被测电路中的任意节点,而相互之间不受影响。当测量高频信号时,则将高频信号变频至低频,再将系统测量带宽限制在较小的带宽,使总链路产生的噪声不但电平小,还能实现宽频率范围内的微弱信号测量,其测量频率下限可低至1mHz,因此可适应多种实际应用环境中的精确测量。

基本信息
专利标题 :
一种频率特性分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921124107.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-17
授权号 :
CN210604778U
授权日 :
2020-05-22
发明人 :
王威曾文斌侯啸林
申请人 :
深圳市芯启源科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区新安街道创业二路宝安新一代信息技术产业园C座525
代理机构 :
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司
代理人 :
彭家恩
优先权 :
CN201921124107.1
主分类号 :
G01R23/02
IPC分类号 :
G01R23/02  G01R1/30  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置;频谱分析装置
G01R23/02
频率测量装置,如脉冲重复率的测量;电流或电压周期的测量装置
法律状态
2020-05-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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