一种芯片生产点样机
授权
摘要
本实用新型涉及一种芯片生产点样机，包括底座、基台、点样台、点样密封箱、围墙式开关站台，所述底座设有四个，分别固定在基台的底面四角，所述点样台固定在基台的顶面，所述点样密封箱固定在点样台的顶面，所述围墙式开关站台固定在基台的顶面，所述围墙式开关站台设在点样密封箱的左侧面和后侧面。本实用新型利既优化芯片生产所使用的点样机的设置，改变传统的与外界接通环境进行芯片点样的设置，改进为密封的点样机箱，可以增大芯片点样的效率，而且可以使得良品率大大提高，避免了空气中的尘埃会对芯片进行污染，很大程度的提升了芯片点样机的应用性，为以后的芯片点样造就了一定的良品保障，设备所采用的抗压玻璃，可以保障密封玻璃的使用性能，宜推广使用。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片生产点样机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921127572.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-18
授权号 ：
CN210742288U
授权日 ：
2020-06-12
发明人 ：
姜文婷
申请人 ：
启业保（武汉）网络科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市汉阳区陶家岭康达街以北车友路以西陶家岭产业园514号
代理机构 ：
枣庄小度智慧知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周莉
优先权 ：
CN201921127572.0
主分类号 ：
G01N35/10
IPC分类号 ：
G01N35/10 G01N1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
G01N35/10
用于将样品传送给、传送入分析仪器或从分析仪器中输出样品的装置，例如吸入装置、注入装置
法律状态
2020-06-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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