一种晶体定向仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种晶体定向仪,包括机台,机台上设置有工作台,工作台上设置有旋转放置台,旋转放置台包括旋转盘,旋转盘可以在工作台上转动,旋转盘顶部对称设置有支撑柱一和支撑柱二,支撑柱一顶端设置有微型伺服电机,微型伺服电机输出端设置有直齿轮一,支撑柱一靠近支撑柱二的一面设置有夹持盘一,夹持盘一可在支撑柱一上转动,夹持盘一背面固定有直齿轮二,直齿轮一与直齿轮二相啮合,支撑柱二上靠近支撑柱一的一侧设置有夹持盘二,夹持盘二与支撑柱二之间设置有连接轴,连接轴上套有弹簧,连接轴穿过支撑柱二远离夹持盘二的一端设置有限位板,本实用新型结构合理,能将晶体变换角度进行测量,提高测量精度。

基本信息
专利标题 :
一种晶体定向仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921147650.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-22
授权号 :
CN210665551U
授权日 :
2020-06-02
发明人 :
俞平
申请人 :
浙江新泰通讯科技有限公司
申请人地址 :
浙江省绍兴市上虞区百官街道工业区江广路
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921147650.3
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2020-06-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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