辅助定向组件、X射线定向仪以及晶体加工设备
授权
摘要
本申请涉及晶体加工、切割技术领域,尤其是一种辅助定向组件、X射线定向仪以及晶体加工设备设置。一种辅助定向组件,放置在X射线定向仪的测试台上,包括夹持台;夹持台上开设有安放槽,安放槽具有第一侧壁和第二侧壁,第一侧壁与第二侧壁呈第一预设角度;安放槽用于放置待测晶体;待测晶体的轴向侧面分别与所述第一侧壁和所述第二侧壁相切。本申请中安放槽的第一侧壁与第二侧壁垂直连接,保证夹持台的第一侧壁与第二侧壁之间的垂直度,当将待测晶体放置在安放槽内时,待测晶体的轴向侧面分别与第一侧壁和第二侧壁相切,即能够保证待测晶体的轴向侧面与安装槽之间较小垂直度的垂直度偏差,进而保证待测晶体轴向晶向偏差无误。
基本信息
专利标题 :
辅助定向组件、X射线定向仪以及晶体加工设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021413730.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-17
授权号 :
CN212568551U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
张晓周李德斌陈丽英马建
申请人 :
成都东骏激光股份有限公司
申请人地址 :
四川省成都市蒲江县鹤山镇工业开发区
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
毕翔宇
优先权 :
CN202021413730.1
主分类号 :
G01N23/20025
IPC分类号 :
G01N23/20025
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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