一种便于取放物品的半导体微粒监测机
授权
摘要
本实用新型涉及半导体微粒监测设备技术领域，具体为一种便于取放物品的半导体微粒监测机，包括装置主体以及设置在装置主体上的监测盒，监测盒内设有与外界相连通的凹槽，第一矩形槽的左右两侧槽壁上均设有轴孔，监测盒上设有盖板，盖板与轴孔之间通过转轴转动连接；监测盒上还设有盖板开启装置，盖板开启装置包括紧密焊接在转轴上的从动齿轮以及紧密粘接在监测盒上的保护罩，第二矩形槽内设有微型马达。本实用新型操作简单快捷，方便取放物品，给使用者带来便利。
基本信息
专利标题 ：
一种便于取放物品的半导体微粒监测机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921153505.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-22
授权号 ：
CN210640180U
授权日 ：
2020-05-29
发明人 ：
杜良辉闫文军何於
申请人 ：
江苏壹度科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省镇江市句容市开发区崇明西路102号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921153505.6
主分类号 ：
H01L21/67
IPC分类号 ：
H01L21/67
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
法律状态
2020-05-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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