一种楼板测厚仪
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摘要

本实用新型涉及测量工具的技术领域,尤其是涉及一种楼板测厚仪,解决了现有技术中测厚仪使用寿命较短的问题。一种楼板测厚仪,包括测厚仪本体、连接于测厚仪本体上的接收探头和与接收探头配合使用的发射探头,接收探头的底部安装有耐磨环,所述接收探头的底部靠近边缘处环绕其边缘开设有环形的安装槽,所述耐磨环的顶部设置有嵌入所述安装槽的安装凸棱,安装凸棱的内壁与所述安装槽的内壁螺纹连接,安装凸棱的外壁与所述安装槽的外壁螺纹连接。通过耐磨环的设置,对接收探头进行保护,使得耐磨环与楼板的表面相接触,从而防止了接收探头直接与楼板相接触,防止了由于与楼板的相对移动而造成对接收探头的磨损,从而延长了楼板测厚仪的使用寿命。

基本信息
专利标题 :
一种楼板测厚仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921178287.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-23
授权号 :
CN210119214U
授权日 :
2020-02-28
发明人 :
易炜
申请人 :
深圳市正勘建筑工程技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区植物园路383-3号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921178287.1
主分类号 :
G01B15/02
IPC分类号 :
G01B15/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2020-02-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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