一种楼板测厚仪误差检测校准装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种楼板测厚仪误差检测校准装置。包括标准块机构、楼板测厚仪检测机构和发射探头循扫机构，发射探头循扫机构安装在楼板测厚仪检测机构上；置物平板位于扫描平板正下方，置物平板两端通过光栅尺竖直滑动安装于装置支撑架上；置物平板上为置物区域并装接收探头，扫描平板下表面有箔式应变片；滚珠丝杆外螺纹套装有滚珠丝杆螺母座，滚珠丝杆螺母座嵌装在导轨上，滚珠丝杆螺母座底端经伸缩杆安装扫描探头。本实用新型能够更好真实的检验实际中楼板测厚仪的检测数据，更好的检验楼板的合格率，减小检验过程中空气介质层相较于实际中的楼板的误差，可作为检验机构和仪器使用检定单位的自检装置。
基本信息
专利标题 ：
一种楼板测厚仪误差检测校准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921181984.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-25
授权号 ：
CN210833464U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
刘春学胡祯陈刚徐强胜顾建伟孙晓莉朱纬江锐明蔡林衡赵越超王琦玮
申请人 ：
上海市质量监督检验技术研究院
申请人地址 ：
上海市徐汇区苍梧路381号
代理机构 ：
上海世圆知识产权代理有限公司
代理人 ：
王佳妮
优先权 ：
CN201921181984.2
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02 G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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