一种用于液体折射率测量的笔式布局的光学系统
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摘要
本实用新型公开了一种用于液体折射率测量的笔式布局的光学系统，包括用以生成光束的光源（U1）、用以折射入射光束的探头本体（U4）和用以接收出射光图像的图像传感器（U2），探头本体（U4）包括能够使光源（U1）生成的光束进入形成出射光束的进光面（S1），将进光面（S1）的出射光束进行反射的第一反射面（S2），将第一反射面（S2）反射的光束汇聚在一起且能够进行透射光和/或全反射光的工作面（S3），将工作面（S3）全反射的光束进行反射的第二反射面（S4），将第二反射面（S4）反射的光束出射出去的出射面（S5）；将探头、光源、图像传感器等集成一体，形成小型化的光学系统，可用于进行液体的折射率测量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于液体折射率测量的笔式布局的光学系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921179585.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-25
授权号 ：
CN211122528U
授权日 ：
2020-07-28
发明人 ：
杨世华马玉峰魏微
申请人 ：
四川维思达光学技术有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区高朋大道12号
代理机构 ：
成都其高专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
贾波
优先权 ：
CN201921179585.2
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2020-07-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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