一种锁定组件、移载平台以及测试系统
授权
摘要

本实用新型涉及测试技术领域,尤其涉及一种锁定组件、移载平台以及测试系统。本实用新型提供的锁定组件包括安装架、触发件以及锁定件,其中,触发件以及锁定件相对安装架活动连接,通过触发触发件,锁定件被触发件驱动后移动,以在锁定位置以及解锁位置切换。本实用新型中的锁定组件的通过移动的方式在锁定位置以及解锁位置之间切换,可以避免锁定件对显示面板产生击打力,能够避免待测产品发生损坏。本实用新型提供的移载平台和测试系统包括如上提到的锁定组件,能够避免待测产品发生损坏。

基本信息
专利标题 :
一种锁定组件、移载平台以及测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921182737.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-25
授权号 :
CN210442453U
授权日 :
2020-05-01
发明人 :
刘跃江斌
申请人 :
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区港田路青丘街青丘巷8号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
胡彬
优先权 :
CN201921182737.4
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  G09G3/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-05-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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