一种均热组件及温度校验仪
授权
摘要
本实用新型提供一种均热组件、温度校验仪及温度校验方法，用于对被检温度器件进行校验，该均热组件包括均热块和密封盖，该均热块设有用于容置被检温度器件的温包或感应端的盲孔，盲孔内填充有导热液，盲孔的开口端设有溢流槽，以承接盲孔中插入被检温度器件的温包或感应端时溢出的导热液。本实用新型通过在均热块上设置溢流槽配合填充有导热液体的盲孔，能够为被检温度器件的温包或感应端形成均衡的温度场，提高了检验精度；通过设置与均热块配套使用的密封盖，用于在校验完成后，防止盲孔中的液体泄漏，便于均热块的存放和携带；该温度校验仪通过设置均热组件，为被检温度器件的校验提供了均衡的温度场，适用于现场高精度校验被检温度器件。
基本信息
专利标题 ：
一种均热组件及温度校验仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921186165.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-26
授权号 ：
CN210221347U
授权日 ：
2020-03-31
发明人 ：
李学灿高洪军张春莹
申请人 ：
北京康斯特仪表科技股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区丰秀中路3号院5号楼
代理机构 ：
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵永丽
优先权 ：
CN201921186165.7
主分类号 ：
G01K15/00
IPC分类号 ：
G01K15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K15/00
温度计的测试或校准
法律状态
2020-03-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
