用于温度校验的加热装置及温度校验仪
授权
摘要
本实用新型提供一种用于温度校验的加热装置及温度校验仪，该加热装置包括底座以及支撑在底座上的外壳和恒温块，恒温块置于外壳的内部，恒温块内设空腔，恒温块本体内布置有加热元件，所述恒温块底部通过设置在底座上的支撑柱支撑，恒温块顶部通过固定在外壳顶部的定位件限位。本实用新型通过设置支撑柱和定位件，在实现固定的同时，使恒温块底面和侧面与其它部件的接触面积尽可能小，减少了恒温块的热传导散热，有助于改善恒温块空腔内的温场效果；通过在恒温块的下方设置多层隔热片以及在恒温块周向设置多层隔热筒，相对于现有采用保温材料的方案，进一步提升恒温块的保温效果。
基本信息
专利标题 ：
用于温度校验的加热装置及温度校验仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022368687.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-22
授权号 ：
CN213481585U
授权日 ：
2021-06-18
发明人 ：
李学灿刘宁陈高飞
申请人 ：
北京康斯特仪表科技股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区丰秀中路3号院5号楼
代理机构 ：
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵永丽
优先权 ：
CN202022368687.8
主分类号 ：
G01K15/00
IPC分类号 ：
G01K15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K15/00
温度计的测试或校准
法律状态
2021-06-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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