一种电路板通孔缺陷终检设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种电路板通孔缺陷终检设备,包括组装镜面光反射平台、设置在组装镜面光反射平台上方的光学摄像镜头组件,组装镜面光反射平台包括镜面不锈钢层,组装镜面光反射平台上表面用于放置完成钻孔的待检测电路板;光学摄像镜头组件包括摄像机及与其连接的自准直平行光管,自准直平行光管的出口端与所组装镜面光反射平台上放置的待检测电路板相对设置,摄像机用于成像并提供主光源,主光源射出的光经过自准直平行光管进行放大后照射到待检测电路板上,并透过待检测电路板上的通孔照射到镜面不锈钢层,进而由镜面不锈钢层反射的光至少部分地进入待检测电路板上的通孔中。本实用新型利用镜面光反射平台来摄取印刷电路板上通孔成像信息。

基本信息
专利标题 :
一种电路板通孔缺陷终检设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921196541.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-26
授权号 :
CN210690434U
授权日 :
2020-06-05
发明人 :
胡冰峰郭勇祥
申请人 :
苏州康代智能科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区科智路1号
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
吴芳
优先权 :
CN201921196541.0
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  G01N21/15  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2020-06-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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