一种基于多探头波束合成技术的测量设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于多探头波束合成技术的测量设备，该基于多探头波束合成技术的测量方法，应用于基于多探头波束合成技术的测量设备，所述测量设备包括电波暗室、控制台、环形支架、待测物转台、波束合成网络和至少两个实际探头，包括：通过所述电波暗室吸收电磁波和隔绝外部干扰电磁场；通过所述控制台控制所述波束合成网络的调整，控制所述待测物转台旋转；通过所述待测物转台带动待测物体旋转；通过所述波束合成网络为至少两个所述实际探头提供信号激励，生成至少一个等效探头。本实用新型使用较少的探头，探头间间距大，耦合效应不明显，测试结果精度，结构简单，效率高。
基本信息
专利标题 ：
一种基于多探头波束合成技术的测量设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921214738.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-30
授权号 ：
CN210894526U
授权日 ：
2020-06-30
发明人 ：
韩栋梁家军
申请人 ：
泰姆瑞技术(深圳)有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区新安街道大浪社区创业二路北二巷5号七星创业楼103-102
代理机构 ：
深圳市远航专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
田志远
优先权 ：
CN201921214738.2
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R29/08 G01R1/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-06-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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