一种检测规装置
授权
摘要
本实用新型涉及电子产品检测技术领域，尤其涉及一种检测规装置，括底板、第一凹槽、第二凹槽、若干个第一凸柱、若干个第二凸柱及至少两个定位部；所述第一凹槽设于底板的顶部；所述第二凹槽位于第一凹槽内，所述第二凹槽靠近底板的侧壁设置，所述第二凹槽设有缺口；所述第一凸柱位于第一凹槽内，所述第二凸柱位于底板的顶部；两个所述定位部设于底板的顶部，两个所述定位部与所述第一凹槽间距设置，两个所述定位部间距设置，每个所述定位部均始自底板的表面并朝向远离底板的方向延伸；通过在底板设置第一凹槽、第二凹槽、若干个第一凸柱、若干个第二凸柱及至少两个定位部，实现一次性全检的目的，提高检测的效率及检测的质量。
基本信息
专利标题 ：
一种检测规装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921227725.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-31
授权号 ：
CN210154464U
授权日 ：
2020-03-17
发明人 ：
张礼明
申请人 ：
东莞市德懋机电有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市石排镇下沙村刘屋基围
代理机构 ：
东莞市华南专利商标事务所有限公司
代理人 ：
田小伟
优先权 ：
CN201921227725.9
主分类号 ：
G01B5/00
IPC分类号 ：
G01B5/00 G01B5/02 G01B5/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-03-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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