一种原位物性测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及原位物性测试技术领域，公开了一种原位物性测试系统，本实用新型提供的原位物性测试系统由真空设备连接真空样品制备设备，在真空设备内将样品装入真空测试腔室内并密封，再将真空测试部件连接于插杆组件，将插杆组件与快速进样室密封连接，通过插板阀使快速进样室和稀释制冷机连通，控制插杆组件动作以将真空测试部件推入稀释制冷机内进行样品测试，保证了采用上述原位物性测试系统进行物性表征时的准确性，不仅满足和稀释制冷机相关的所有极端条件下物性表征的需求，解决了依靠稀释制冷机的表征测量样品装卸过程会经历暴露大气的课题，完整保留了稀释制冷机原本的强磁场和极低温环境。
基本信息
专利标题 ：
一种原位物性测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921244984.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-02
授权号 ：
CN210572372U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
冯加贵武彪熊康林孙骏逸黄永丹任毅丁孙安陆晓鸣芮芳
申请人 ：
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区独墅湖高教区若水路398号
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
胡彬
优先权 ：
CN201921244984.2
主分类号 ：
G01Q60/00
IPC分类号 ：
G01Q60/00 G01Q30/10 G01Q30/16 G01N21/84 G01N21/11
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01Q
扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术
G01Q60/00
特殊类型的SPM或其设备；其基本组成
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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