一种基于莫尔条纹的高精度织物密度测定仪
授权
摘要

本实用新型为解决目前布料密度尺存在的问题提供一种基于莫尔条纹的高精度织物密度测定仪,测定仪包括壳体、仪表盘、布料仓、光源、光栅和旋转盘,仪表盘设在壳体上表面,壳体内侧位于仪表盘下方设有滑道,布料仓设在滑道上,光源设在布料仓下方;光栅位于仪表盘和布料仓之间;布料仓上设有偏心圆形凹槽,旋转盘位于凹槽内,突出于布料仓外侧。本实用新型提供的测定仪结构简单,制作成本低,不受布料线条宽度和密度等因素的影响,结合本实用新型提供的测定方法,能够测量线条密度较大或线条较宽的织物,具有精度高、操作方便等优点,有利于推广使用;并且可以根据织物的特性选取不同宽度格栅的光栅,适用范围更广。

基本信息
专利标题 :
一种基于莫尔条纹的高精度织物密度测定仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921250075.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-05
授权号 :
CN210322782U
授权日 :
2020-04-14
发明人 :
段彬马式跃崔笑仙白学军陈少康关键李梦茹汪倩竹翟猛
申请人 :
吉林大学
申请人地址 :
吉林省长春市前进大街2699号
代理机构 :
长春市恒誉专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
梁紫钺
优先权 :
CN201921250075.X
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2020-04-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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