一种用于太赫兹频段的准直聚焦系统和安检成像系统
授权
摘要
本实用新型实施例提供了一种用于太赫兹频段的准直聚焦系统和安检成像系统，本实用新型应用于安检成像系统中。本实用新型涉及安检领域，该系统包括：馈源，发出的波束沿Z方向传播，波束的X方向在近距离范围内为平行波束，在Y方向为发散波束；准直器件，用于对发散波束准直；聚焦器件，用于对准直后得到的新波束聚焦；成像面器件，用于接收经过准直、聚焦后的聚焦光斑。解决了现有太赫兹安检成像系统中波束在不同方向发散程度不一样引起聚焦位置偏差从而导致成像分辨率差的问题。实现了波束聚焦位置相同、聚焦光斑效果较好的状态，从而使安检成像系统的成像器件相比现有技术成像分辨率更加高、性能更好的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种用于太赫兹频段的准直聚焦系统和安检成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921251953.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-02
授权号 ：
CN210923986U
授权日 ：
2020-07-03
发明人 ：
郝丛静侯培培李世超刘瑞强贾渠
申请人 ：
北京航天易联科技发展有限公司
申请人地址 ：
北京市大兴区经济技术开发区锋创科技园18号院24号楼
代理机构 ：
北京润泽恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
莎日娜
优先权 ：
CN201921251953.X
主分类号 ：
G01V8/10
IPC分类号 ：
G01V8/10 G01N21/47 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V8/00
用光学装置勘探或探测
G01V8/10
探测，例如，用光垒
法律状态
2020-07-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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