基于光学跟踪扫描仪和PLC的桁架式工业测量系统
授权
摘要

本实用新型公开了一种基于光学跟踪扫描仪和PLC的桁架式工业测量系统及测量方法,包括工控机、机械系统控制柜、工字钢主框架、多轴伺服直线导轨、扫描仪、跟踪仪、机械臂、测量台以及跟踪仪定位标志单元,PLC与多轴伺服和机械臂之间通过TCP/IP连接,控制多轴伺服与机械臂运动,获取扫描数据。本实用新型的基于光学跟踪扫描仪和PLC的桁架式工业测量系统在安装调试完成后,能够实现大型工件的全自动三维激光扫描,自动获取工件的三维点云数据,对三维激光点云进行自动分析处理,自动生成尺寸检测成果;满足大型工件的自动化、流水化的测量需求,而且系统具有良好的扩展性,在工业测量检测领域具有重要的应用前景。

基本信息
专利标题 :
基于光学跟踪扫描仪和PLC的桁架式工业测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921255646.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-05
授权号 :
CN210464367U
授权日 :
2020-05-05
发明人 :
秦守鹏许磊谭兆李亚辉洪江华匡团结郑雪峰赵梦杰张冠军张云龙
申请人 :
中国铁路设计集团有限公司
申请人地址 :
天津市东丽区空港经济区西二道82号丽港大厦201
代理机构 :
天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈昌娟
优先权 :
CN201921255646.9
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/24  G05B19/05  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-05-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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